汽車LED燈具AECQ認(rèn)證詳情

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項(xiàng)目詳情

　　汽車LED燈具AECQ認(rèn)證，汽車LED燈AECQ認(rèn)證主要領(lǐng)域。目前主要集中在消費(fèi)電子領(lǐng)域和汽車照明領(lǐng)域

　　AEC-Q認(rèn)證概念

　　AEC 是“Automotive Electronics Council：汽車電子協(xié)會(huì)”的簡(jiǎn)稱。

　　克萊斯勒、福特和通用汽車為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)立了汽車電子委員會(huì)(AEC)，是主要汽車制造商與美國(guó)的主要部件制造商匯聚一起成立的、以車載電子部件的可靠性以及認(rèn)定標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格化為目的的團(tuán)體，AEC建立了質(zhì)量控制的標(biāo)準(zhǔn)。針對(duì)于主動(dòng)零件所設(shè)計(jì)出的標(biāo)準(zhǔn)為 [AEC-Q100]，針對(duì)于被動(dòng)元件設(shè)計(jì)為[AEC-Q200]， AEC-Q100是基于集成電路應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證的失效機(jī)理

　　AEC-Q 認(rèn)證測(cè)試方法

　　加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試（偏高濕度、溫度循環(huán)、功率溫度循環(huán)、高溫儲(chǔ)存、鹽霧測(cè)試、濕度抵抗、機(jī)械沖擊、變頻振動(dòng)、恒加速應(yīng)力、蓋板扭力測(cè)試、芯片切斷、跌落測(cè)試）

　　加速壽命模擬測(cè)試（高溫工作壽命、早期失效率、熱沖擊、旋轉(zhuǎn)壽命、壽命終止模擬驗(yàn)證）

　　封裝組合整裝測(cè)試（邦線切應(yīng)力/拉力、錫球切應(yīng)力、可焊性、引線完整性、剪切強(qiáng)度、斷裂強(qiáng)度、抗焊接熱、端子強(qiáng)度）

　　芯片晶圓可靠度測(cè)試（電遷移、介質(zhì)擊穿、熱載流子注入、負(fù)偏壓溫度不穩(wěn)定性、應(yīng)力遷移）

　　電氣特性確認(rèn)測(cè)試（人體模式/機(jī)器模式靜電放電、ESD、帶電器件模式靜電放電、閂鎖效應(yīng)、電分配、故障分級(jí)、電熱效應(yīng)引起的柵漏、電磁兼容、短路特性描述、軟錯(cuò)誤率、瞬時(shí)電傳導(dǎo)、短路失效電流持久性）

　　瑕疵篩選監(jiān)控測(cè)試（部件平均測(cè)試、統(tǒng)計(jì)良率分析）

　　封裝凹陷整合測(cè)試（粗/細(xì)漏檢、內(nèi)部水汽含量）

　　AEC-Q認(rèn)證覆蓋標(biāo)準(zhǔn)

　　AEC-Q001 零件平均測(cè)試指導(dǎo)原則

　　AEC-Q002 統(tǒng)計(jì)式良品率分析的指導(dǎo)原則

　　AEC-Q003 芯片產(chǎn)品的電性表現(xiàn)特性化的指導(dǎo)原則

　　JEDEC JESD-22 封裝器件可靠性測(cè)試方法

　　MIL-STD-883 微電子測(cè)試方式和程序

　　GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序

　　EIA -469 破壞性的物理分析

　　MIL-STD-202 電子和電氣元器件測(cè)試方法

　　J-STD-002 可焊性規(guī)格

　　MIL-PRF-27 電感/變壓器測(cè)測(cè)試方法

　　JESD22-A121 測(cè)量錫及錫合金表面涂層的錫須生長(zhǎng)的測(cè)試方法

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