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材料成分分析方法

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  原子光譜法:原子光譜是原子吸收或發(fā)出光子的強度關(guān)于光子能量(通常以波長表示)的圖譜,可以提供關(guān)于樣品化學(xué)組成的相關(guān)信息。原子光譜分為三大類:原子吸收光譜、原子發(fā)射光譜和原子熒光光譜。
 
  X射線能量色散譜法(EDX):EDX常與電子顯微鏡配合使用,它是測量電子與試樣相互作用所產(chǎn)生的特征X射線的波長與強度,從而對微小區(qū)域所含元素進行定性或定量分析。每種元素都有一個特定波長的特征X射線與之相對應(yīng),它不隨入射電子的能量而變化,測量電子激發(fā)試樣所產(chǎn)生的特征X射線波長的種類,即可確定試樣中所存在元素的種類。元素的含量與該元素產(chǎn)生的特征X射線強度成正比,據(jù)此可以測定元素的含量。
 
  電子能譜分析法:電子能譜分析法是采用單色光源或電子束去照射樣品,使樣品中電子受到激發(fā)而發(fā)射出來,然后測量這些電子的強度與能量的分布,從而獲得材料信息。電子能譜的采樣深度僅為幾納米,所以它僅僅是表面成分的反應(yīng)。
 
  X射線衍射法(XRD):XRD也可以輔助用來進行物相的定量分析。它的依據(jù)是,物相的衍射線強度隨著含量的增加而提高。但是并不成正比,需要加以修正,采用Jade程序就可以對物相進行定量分析。
 
  質(zhì)譜法(MS):它是將被測物質(zhì)離子化,按離子的質(zhì)荷比分離,測量各種離子譜峰的強度而實現(xiàn)分析目的的一種分析方法。質(zhì)量是物質(zhì)的固有特征之一,不同的物質(zhì)有不同的質(zhì)量譜(簡稱質(zhì)譜),利用這一性質(zhì),可以進行定性分析;譜峰強度也與它代表的化合物含量有關(guān),可以用于定量分析。
 
  分光光度計法:分光光度計采用一個可以產(chǎn)生多個波長的光源,通過系列分光裝置,從而產(chǎn)生特定波長的光源,光線透過測試的樣品后,部分光線被吸收,計算樣品的吸光值,從而轉(zhuǎn)化成樣品的濃度,吸光值與樣品的濃度成正比。它包括可見分光光度計和紫外分光光度計。
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